Pletronics新型频率控制技术SM13T-18-26.0M20H1LK
1,介绍
2,研究的装置和方法
本研究在相同的测试条件下对以下装置应用了标准测量技术,以便对性能和能力进行直接比较:
本文给出的结果基于已建立的频率控制测量技术,该技术采用了2012年研究设备时可商购的当前测试技术。除非另有说明,所有试验均在相同条件下进行。
Pletronics新型频率控制技术
2,OCXO技术
Ovenized Crystal Oscillator(OCXO)恒温晶振,通常用于高精度频率应用。这种方法将晶体和相关的振荡器电路加热到晶体的上转折点。图2显示了OCXO应用程序中使用的上部转折点的一部分。
这些振荡器的晶体是这样制造的,即上转折点高于规定的最高温度范围。晶体和相关电路被加热到并保持晶体上该点附近的狭窄温度窗口,并且器件被调谐到该温度下的频率。
图#3显示了当EFC与TCXO类似地变化+/-4 ppm和+/-8 ppm时OCXO石英晶体振荡器的频率-温度特性。数据显示,与50-100ppb的TCXO相比,OCXO与控制电压变化相关的稳定性在5-10ppb的范围内。
Pletronics新型频率控制技术
OCXO还有一个额外的优点,即在非常窄的温度窗口(通常为几度或更低)上锻炼晶体。这大大减少了激发晶体中不需要的模式的机会。这种方法的最大缺点是设备的尺寸和功率要求。随着技术的进步,这些设备的尺寸和功率要求都在不断降低。
本申请说明中提供的数据取自商用现成产品。供应商之间的确切数字会有所不同,但总体趋势和大致幅度应该相似。在选择合适的设备之前,需要审查的关键问题是频率稳定性的变化,以及校准和长期稳定性(老化)所需的调整。OCXO对这些效应的敏感性只有TCXO温补晶振的四分之一。在考虑产品的使用寿命时,应考虑到这一点。
下表概述了OCXO和TCXO产品之间需要考虑的差异。一般来说,当尺寸和功率对应用至关重要时,首选TCXO。这些往往是手持或电池操作的设备。就频率稳定性而言,OCXO是一种更稳健的产品。这种类型的产品往往更适合通信/网络应用。表A应该有助于指导设计者为应用程序选择最合适的技术。
Description | |||||
---|---|---|---|---|---|
UCG4
TCXO or VCTCXO |
Clipped Sine | 10 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 2.0x1.6 | |
UCG6
TCXO or VCTCXO |
Clipped Sine | 10 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 2.0x1.6 | |
UCF4
TCXO or VCTCXO |
Clipped Sine | 10 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 2.5x2.0 | |
UHF4
TCXO |
CMOS | 9.5 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 2.5x2.0 | |
UCE4
TCXO or VCTCXO |
Clipped Sine | 10 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 3.2x2.5 | |
UHE4
TCXO |
CMOS | 9.5 to 40MHz | 1.8V - 3.3V | 3.2x2.5 | |
UCD4
TCXO or VCTCXO |
Clipped Sine | 10 to 40MHz | 2.5V - 3.3V | 5x3.2 | |
UHD4
TCXO or VCTCXO |
CMOS | 10 to 40MHz | 2.5V - 3.3V | 5x3.2 |
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