设计Quartz Crystal时有哪些参数要考虑
来源:http://www.jinluodz.com 作者:金洛鑫电子 2019年03月30
具有独特的频率振荡和压电效应的石英晶体谐振器,是比较常用的一种电子元器件,你几乎可以在任何一种产品内部的PCB板上见到它,而且Quartz Crystal的外形多变,有金属面SMD型,黑色陶瓷面SMD型,圆柱插件,49S插件,插件弯脚等封装。这些不同的外形跟它们的生产方式和技术有很大的关系,晶体制造商在确认好方案后,就要开始设计了。电子零件本身就是比较复制的东西,设计一款石英晶体要考虑的很多,规格参数是重中之重,而且这些参数还很多,本文的目的就是介绍晶体设计的主要参数。
可移动性:可移动性是指晶体单元的频率变化,从自然谐振频率(Fr)到负载谐振频率(FL),或从一个负载谐振频率到另一个负载谐振频率。参见图C.给定晶体单元在给定负载电容值下表现出的可牵展性量是并联电容(Co)和晶体单元的运动电容(C1)的函数。 阻抗/电抗曲线:晶体具有两个零相位频率,如图D所示。两者中的第一个或更低的是串联谐振频率,表示为(s)。此时,晶体在电路中呈现电阻,阻抗最小,电流最大。随着频率增加超过串联谐振点,晶体在电路中看起来是电感性的。当运动电感和并联电容的电抗抵消时,时钟晶体处于反共振频率,表示为(fa)。此时,阻抗最大化并且电流最小化。
场振动:有两种基本类型的振动,周期性和随机性。通常,场中的振动产生复杂的运动波,其可以影响石英晶体的输出。由于振动引起的大多数故障是机械放大共振的直接结果,因为谐振区域达到更高的加速度水平,导致更高的损坏可能性。应使用原型对所有影响振动的因素进行全面评估。应考虑结构系统,部件位置,安装和封装以最大化稳定性。请记住,水晶的设计可以承受正常的操纵振动;增加的耐用性可能会对稳定性或老化等理想品质产生不利影响。
品质因数(Q):晶体单元的“Q”值是单位相对质量或振荡效率的量度。晶体单元的最大可达到的稳定性取决于“Q”值。在图D中,串联和并联频率之间的间隔称为带宽。带宽越小,“Q”值越高,电抗斜率越陡。外部电路元件的电抗变化对高“Q”晶体的影响较小(“可拉性”较小),因此这种部件更稳定。
串联与并联:“串联”谐振晶体适用于Oscillator反馈环路中不含无功元件的电路。“并联”谐振晶体用于在振荡器反馈环路中包含无功元件(通常是电容器)的电路中。这种电路取决于电抗元件和晶体的组合,以实现在特定频率下启动和保持振荡所需的相移。两个这样的电路的基本描述如下所示。
负载电容:这是指晶体外部的电容,包含在振荡器电路的反馈环路中。如果应用需要“并联”谐振晶体,则必须指定负载电容的值。如果应用需要“串联”谐振晶体,则负载电容不是一个因素,无需指定。负载电容是在PCB上的晶体端子上测量或计算的电容量。
频率容差:频率容差是指在特定温度(通常为+25°C)下与标称值的允许偏差,单位为百万分率(PPM)。
老化:老化是指石英水晶振子单元随时间经历的频率累积变化。影响老化的最常见因素包括驱动水平,内部污染,晶体表面变化,环境温度,电线疲劳和摩擦磨损。通过适当的电路设计可以最大限度地减少所有这些问题,从而实现低工作温度,最小驱动电平和静态预老化。
如果可拉性是设计的一个因素,建议与我们的工程师合作;在制造期间,通过改变晶体参数可以在一定程度上控制带宽。标准晶体的拉伸极限的近似值可以从以下公式获得:
确切的限制还取决于晶体的Q值以及相关的杂散电容。通过改进的晶体制造和在石英晶体外部增加电容或电感,可拉性大约加倍。如果已知Co和C1,则可以使用以下公式获得两个电容之间的拉入ppm。
要获得关于已知负载电容的每pF的AVERGE牵引,请使用以下公式。
等效电路:等效电路,如图B所示,是在自然谐振频率下工作时石英水晶谐振器单元的电气描述。CO或并联电容表示晶体电极的电容加上支架引线的电容。R1,C1和L1组成晶体的“运动臂”,称为运动参数。运动电感(L1)代表晶体单元的振动质量。运动电容(C1)代表石英的弹性,电阻(R1)代表石英内发生的体积损失。
负载电容的计算:如果电路配置如图A所示并联版本,负载电容可通过以下公式计算:
C杂散包括晶体1和晶体2引脚上的微处理器芯片的引脚到输入和输出电容,以及任何寄生电容。根据经验,可假设Cstray等于5.0pF。因此,如果CL1=CL2=50pF,则CL=30pF。
微调灵敏度:微调灵敏度是负载电容值增量变化的增量分数频率变化的量度。修剪灵敏度(S)以PPM/pF表示,并通过以下等式计算:
•波浪或双波
•热空气或对流流动
•气相回流
•红外回流
•气泡焊接浸入
•其他(激光等)
由于材料的天然特性,我们的一些石英晶体无法承受热冲击。极端温度会导致从外壳内部镀锡(Sn)到达其熔点,在石英元件上沉积焊料。这可能导致组件以较低频率振荡或完全失效。在其他情况下,焊接接触会降低,导致开路。通过预热元件和电路板,并遵循上面提到的推荐的焊接工艺时间/温度曲线,可以避免这些问题。有用的水晶方程:
冲击特性:虽然晶体设计用于处理正常的冲击,但在现场可能会发生冲击脉冲(如半正弦,方波,锯齿和复杂组合)。由于晶体相对脆弱,因此应将它们与设备隔离,以尽量减少冲击损坏。但是,避免过度规范,因为材料的弹性和设备提供的隔离程度可以降低冲击的破坏性潜力。
平时经常接触的频率,频率容差,负载电容,工作温度等,也在晶体的设计范围之内,该资料由深圳市金洛鑫电子有限公司整理,越来越多的产品工程师,为了更好的使用晶振而去了解相关的基础知识,和技术资料等。
可移动性:可移动性是指晶体单元的频率变化,从自然谐振频率(Fr)到负载谐振频率(FL),或从一个负载谐振频率到另一个负载谐振频率。参见图C.给定晶体单元在给定负载电容值下表现出的可牵展性量是并联电容(Co)和晶体单元的运动电容(C1)的函数。 阻抗/电抗曲线:晶体具有两个零相位频率,如图D所示。两者中的第一个或更低的是串联谐振频率,表示为(s)。此时,晶体在电路中呈现电阻,阻抗最小,电流最大。随着频率增加超过串联谐振点,晶体在电路中看起来是电感性的。当运动电感和并联电容的电抗抵消时,时钟晶体处于反共振频率,表示为(fa)。此时,阻抗最大化并且电流最小化。
场振动:有两种基本类型的振动,周期性和随机性。通常,场中的振动产生复杂的运动波,其可以影响石英晶体的输出。由于振动引起的大多数故障是机械放大共振的直接结果,因为谐振区域达到更高的加速度水平,导致更高的损坏可能性。应使用原型对所有影响振动的因素进行全面评估。应考虑结构系统,部件位置,安装和封装以最大化稳定性。请记住,水晶的设计可以承受正常的操纵振动;增加的耐用性可能会对稳定性或老化等理想品质产生不利影响。
品质因数(Q):晶体单元的“Q”值是单位相对质量或振荡效率的量度。晶体单元的最大可达到的稳定性取决于“Q”值。在图D中,串联和并联频率之间的间隔称为带宽。带宽越小,“Q”值越高,电抗斜率越陡。外部电路元件的电抗变化对高“Q”晶体的影响较小(“可拉性”较小),因此这种部件更稳定。
频率容差:频率容差是指在特定温度(通常为+25°C)下与标称值的允许偏差,单位为百万分率(PPM)。
老化:老化是指石英水晶振子单元随时间经历的频率累积变化。影响老化的最常见因素包括驱动水平,内部污染,晶体表面变化,环境温度,电线疲劳和摩擦磨损。通过适当的电路设计可以最大限度地减少所有这些问题,从而实现低工作温度,最小驱动电平和静态预老化。
如果可拉性是设计的一个因素,建议与我们的工程师合作;在制造期间,通过改变晶体参数可以在一定程度上控制带宽。标准晶体的拉伸极限的近似值可以从以下公式获得:
微调灵敏度:微调灵敏度是负载电容值增量变化的增量分数频率变化的量度。修剪灵敏度(S)以PPM/pF表示,并通过以下等式计算:
其中(Ct)是Co和CL的总和
表面贴装器件的焊料回流:SMD晶振单元的安装通常通过焊料回流来实现,如图E所示,通过红外线加热或通过气相。下图描绘了两种方法中每种方法的推荐时间和温度。
焊接特性:可以使用多种方法将ECS晶振产品焊接到PCB和基板上:•波浪或双波
•热空气或对流流动
•气相回流
•红外回流
•气泡焊接浸入
•其他(激光等)
平时经常接触的频率,频率容差,负载电容,工作温度等,也在晶体的设计范围之内,该资料由深圳市金洛鑫电子有限公司整理,越来越多的产品工程师,为了更好的使用晶振而去了解相关的基础知识,和技术资料等。
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